GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序

Test methods and procedures for microelectronic device

被代替

标准号

GJB 548B-2005

发布

2005年

发布单位

国家军用标准-总装备部

替代标准

GJB 548C-2021

当前最新

GJB 548C-2021

 

 

引用标准

GB/T 1036 GB/T 12842 GB/T 3131 GB/T 9178 GB/T 9491 GJB 1208 GJB 1209 GJB 128 GJB 2438 GJB 2712 GJB 360 GJB 597 GJB 899

被代替标准

GJB 548A-1996

适用范围

本标准规定了军用微电子器件的环境、机械、电气试验方法和试验程序，以及为保证微电子器件满足预定用途所要求的质量和可靠性而必须的控制和限制措施。 本标准适用于军用及空间应用的微电子器件。 如果承制方标明或声称其半导体集成电路符合本标准的规定，则必须满足方法5004、5005或5010（对复杂微电路）的要求，混合集成电路应满足GJB 2438的要求，同时应满足本标准的一般要求和所引用的其他试验方法的要求，而且产品规范应经标准化机构确认。

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