KS C IEC 60749-2:2004
半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 2：Low air pressure

被代替

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标准号

KS C IEC 60749-2:2004

发布

2004年

发布单位

韩国科技标准局

替代标准

KS C IEC 60749-2:2020

当前最新

KS C IEC 60749-2:2020

 

 

适用范围

이 규격은 반도체 소자의 저 대기압 시험을 다루고 있다. 시험은 감압 중에 대기 및 기

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