KS D ISO 22493-2012
微光束分析.扫描电子显微镜.术语

Microbeam analysis－Scanning electron microscopy－Vocabulary

KS D ISO 22493-2012 发布历史

이 표준은 주사전자현미경(SEM) 분석에서 사용하는 용어를 정의한다. 이 표준은 체계적인

KS D ISO 22493-2012由韩国标准 KR-KATS 发布于 2012-12-07，并于 2012-12-07 实施。

KS D ISO 22493-2012 在中国标准分类中归属于: K01 技术管理，在国际标准分类中归属于: 01.040.37 成像技术 (词汇),37.020 光学设备。

KS D ISO 22493-2012的历代版本如下：

• 2012年12月07日 KS D ISO 22493-2012 微光束分析.扫描电子显微镜.术语

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标准号

KS D ISO 22493-2012

发布日期

2012年12月07日

实施日期

2012年12月07日

废止日期

无

中国标准分类号

K01

国际标准分类号

01.040.37;37.020

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 표준은 주사전자현미경(SEM) 분석에서 사용하는 용어를 정의한다. 이 표준은 체계적인