KS D 0257-2002
光电导衰减测量法测定硅单晶体少数载流子寿命的方法

Measuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method

说明：

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
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  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
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  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

 

 

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标准号
KS D 0257-2002
发布日期
2002年05月29日
实施日期
2002年05月29日
废止日期
无
中国标准分类号
H81
国际标准分类号
29.045
发布单位
KR-KATS
被代替标准
KS D 0257-1999
适用范围
이 규격은 실리콘 단결정 중의 소수 캐리어의 벌크 재결합 수명(이하 벌크 수명 또는 tB라


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