KS C IEC 60749-3-2002
半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验

Discrete semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 3：External visual examination

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标准号

KS C IEC 60749-3-2002

发布日期

2002年12月31日

实施日期

2002年12月31日

废止日期

无

中国标准分类号

K46

国际标准分类号

31.080.00

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 규격은 반도체 소자가 재료, 설계, 구조, 표시 및 마무리 작업이 적용 가능한 구매