KS D ISO 22489-2012
微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

Microbeam analysis－Electron probe microanalysis－Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength-dispersive x-ray spectroscopy

KS D ISO 22489-2012 发布历史

이 표준은 전자 탐침 미소분석기 또는 주사전자현미경(SEM)과 결합한 파장 분산 분광계(W

KS D ISO 22489-2012由韩国标准 KR-KATS 发布于 2012-03-09，并于 2012-03-09 实施。

KS D ISO 22489-2012 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 71.040.99 有关分析化学的其他标准。

KS D ISO 22489-2012的历代版本如下：

• 2012年03月09日 KS D ISO 22489-2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
• 2018年05月23日 KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析

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标准号

KS D ISO 22489-2012

发布日期

2012年03月09日

实施日期

2012年03月09日

废止日期

无

中国标准分类号

G04

国际标准分类号

71.040.99

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 표준은 전자 탐침 미소분석기 또는 주사전자현미경(SEM)과 결합한 파장 분산 분광계(W