KS D ISO 22489:2012
微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

Microbeam analysis-Electron probe microanalysis-Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength-dispersive x-ray spectroscopy


 

 

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标准号
KS D ISO 22489:2012
发布
2012年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS D ISO 22489:2018
当前最新
KS D ISO 22489-2018(2023)
 
 
适用范围
이 표준은 전자 탐침 미소분석기 또는 주사전자현미경(SEM)과 결합한 파장 분산 분광계(W

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