JEDEC JESD22-C101F-2013
微电子元件静电放电耐受阈值的场致充电器件模型测试方法

Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic-Discharge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components


JEDEC JESD22-C101F-2013封面图

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标准号
JEDEC JESD22-C101F-2013
发布
2013年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 

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