KS C IEC PAS 62162-2002(2022)
微电子元件静电放电耐受阈值的场致带电器件模型试验方法

Field－induced charged－device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components

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标准号

KS C IEC PAS 62162-2002(2022)

发布

2002年

发布单位

韩国科技标准局

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KS C IEC PAS 62162-2002(2022)

 

 

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