IEC 60749-42:2014
半导体器件. 机械和气候试验方法. 第42部分: 温度和湿度存储

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage


标准号
IEC 60749-42:2014
发布
2014年
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 60749-42:2014
 
 
引用标准
IEC 60749-20:2008
被代替标准
IEC 47/2200/FDIS:2014
适用范围
IEC 60749的这一部分提供了一种测试方法来评估在高温和高湿度环境下使用的半导体器件的耐久性。该测试方法用于评估塑料模制和其他类型封装中包含的半导体器件芯片的金属互连的耐腐蚀能力。它还用作加速由于湿气渗透钝化膜而导致的泄漏现象的手段以及作为各种测试的预处理。

IEC 60749-42:2014相似标准


推荐

29个半导体国家标准即将实施,12月1日有12个国标开始实施!

半导体器件 16-5部分:微波集成电路 振荡器2023/9/72024/1/121GB/T 15651.6-2023半导体器件 5-6部分:光电子器件 发光二极管2023/9/72024/4/122GB/T 4937.42-2023半导体器件 机械气候试验方法 42部分:温湿度贮存2023/5/232023/12/123GB/T 4937.23-2023半导体器件 机械气候试验方法 23...

环境试验箱的多种分类方法及选型指导

一提起环境试验箱,先了解一下“环境”与“试验箱”,“环境”由许多环境条件组成,指待测样品在特定时间内所经受的外部条件总和,可以是机械的、气候的、生物的,以及由于化学活性物质机械活性物质产生的其他效应。 “试验箱”的定义是“能够达到规定的试验条件的某部分封闭体或空间”,来模拟所需要测试的环境因素参数及其相应的严酷程度。...

宏展仪器|一朝春醒 超长续航

宏展仪器是客户可靠的试验伙伴,客户产业遍及于电子、半导体、光电、通讯、航天、机械、实验室、汽车…等科技产业,欢迎前来咨询。...

高低温湿热试验箱系统组成

高低温湿热试验箱是通过温度从常温到低温再到高温的反复循环过程,对产品测试物进行预处理,然后进行常规测试,检查产品是否经过不同的环境老化循环测试。温湿度的不同变化,模拟各种气候气候后性能的变化以及产品对各种环境的承受能力。  高低温湿热试验箱主要是由制冷系统,加热系统,控制系统,温度系统空气循环系统,传感器系统等组成。  1)制冷系统:制冷系统是综合恒温恒湿试验箱的要害部分之一。...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号