IEC TS 61967-3-2014
集成电路.电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method
IEC TS 61967-3-2014 发布历史
IEC TS 61967-3-2014由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2014-08-01。
IEC TS 61967-3-2014 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
IEC TS 61967-3-2014 发布之时，引用了标准
- IEC 60050-55-1970 国际电工词汇.第55章:电报和电话
- IEC 60050-101-1998 国际电工词汇 第101部分:数学
- IEC 60050-102-2007 国际电工词汇.第102部分:数学.一般概念和线性代数
- IEC 60050-103-2009 International Electrotechnical Vocabulary – Part 103: Mathematics – Functions (Edition 1.0)
- IEC 60050-111-1996 国际电工词汇 第111章:物理和化学
- IEC 60050-111 AMD 1-2005 修改件1.国际电工词汇.第111章:物理和化学
- IEC 60050-112-2010 International Electrotechnical Vocabulary – Part 112: Quantities and units (Edition 1.0)
- IEC 60050-113-2011 国际电工词汇.第113部分:电工学用物理现象
- IEC 60050-113 Corrigendum 1-2011 国际电工词典.第113部分:电子工程物理学:技术勘误表1
- IEC 60050-114-2014 国际电工词汇. 第114部分: 电化学
- IEC 60050-121-1998 国际电工词汇 第121部分:电磁学
- IEC 60050-121 AMD 1-2002 国际电工词汇.第121部分:电磁学.修改件1
IEC TS 61967-3-2014的历代版本如下：
- 2005年06月 IEC TS 61967-3-2005 集成电路.150 kHz 到 1 GHz电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法
- 2014年08月01日 IEC TS 61967-3-2014 集成电路.电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法
IEC TS 61967-3-2014 集成电路.电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法 由 IEC 47A/925/DTS-2014 变更而来。
- 标准号
- IEC TS 61967-3-2014
- 发布日期
- 2014年08月01日
- 实施日期
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 引用标准
- IEC 60050-55-1970 IEC 60050-101-1998 IEC 60050-102-2007 IEC 60050-103-2009 IEC 60050-111-1996 IEC 60050-111 AMD 1-2005 IEC 60050-112-2010 IEC 60050-113-2011 IEC 60050-113 Corrigendum 1-2011 IEC 60050-114-2014 IEC 60050-121-1998 IEC 60050-121 AMD 1-2002 IE
- 被代替标准
- IEC 47A/925/DTS-2014 IEC/TS 61967-3-2005