KS C IEC 60749-24:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.第24部分:加速抗湿性.无偏HAST

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 24:Accelerated moisture resistance-Unbiased HAST


 

 

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标准号
KS C IEC 60749-24:2006
发布
2006年
发布单位
韩国标准
 
 
适用范围
이 규격은 습한 환경에서 비밀봉성 패키지된 반도체 소자들의 신뢰성을 평가하기 위한 목적으로

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