KS C IEC 60749-9-2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 9:Permanence of marking

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标准号

KS C IEC 60749-9-2003

发布日期

2003年03月25日

实施日期

2003年03月25日

废止日期

无

中国标准分类号

K46

国际标准分类号

31.080.00

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 규격의 목적은 인쇄회로기판 조립 공정으로부터 생기는 납땜 플럭스 찌꺼기를 제거하 는