SJ/T 2214-2015
半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

Measuring methods for semiconductor photodiode and phototransistor

标准号

SJ/T 2214-2015

发布日期

2015年04月30日

实施日期

2015年10月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L54

国际标准分类号

31.080

发布单位

CN-SJ

适用范围

本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管(以下简称“器件”)光电参数的测试方法。本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。

SJ/T 2214-2015 中可能用到的仪器设备

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