ASTM E431-96(2016)
半导体和相关设备的射线照片的标准指南

Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices

被代替

ASTM E431-96(2016) 发布历史

ASTM E431-96(2016)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1996。

ASTM E431-96(2016)在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

ASTM E431-96(2016) 发布之时，引用了标准

• ASTM E1161 半导体和电子元件的放射性的测试方法
• ASTM E1255 射线检查标准实施规范
• ASTM E1316 无损检测标准术语*， 2023-03-01 更新
• ASTM E801 电子设备放射检查质量控制的标准实施规程

* 在 ASTM E431-96(2016) 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

ASTM E431-96(2016)的历代版本如下：

• 2022年 ASTM E431-96(2022) 半导体和相关器件射线照相解释的标准指南
• 1996年 ASTM E431-96(2016) 半导体和相关设备的射线照片的标准指南
• 1996年 ASTM E431-96(2011) 半导体器件及有关器件的X射线照片说明的标准指南
• 1996年 ASTM E431-96(2007) 半导体器件及有关器件的X射线照片说明的标准指南
• 1996年 ASTM E431-96(2002) 半导体器件及有关器件的X射线照片说明的标准指南
• 1996年 ASTM E431-96 半导体器件及有关器件的X射线照片说明的标准指南

1.1 本指南提供半导体和相关设备的射线照片插图。低功率晶体管（通过 TO-11 外壳配置）、二极管、低功率整流器、功率器件和集成电路均以常见的装配特征进行说明。这些设备的特定构造区域详细说明了设计或组装的关键点。

1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

标准号

ASTM E431-96(2016)

发布

1996年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E431-96(2022)

当前最新

ASTM E431-96(2022)

 

 

引用标准

ASTM E1161 ASTM E1255 ASTM E1316 ASTM E801