ASTM E431-96(2016)
半导体和相关设备的射线照片的标准指南

Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices


标准号
ASTM E431-96(2016)
发布
1996年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E431-96(2022)
当前最新
ASTM E431-96(2022)
 
 
引用标准
ASTM E1161 ASTM E1255 ASTM E1316 ASTM E801
适用范围
1.1 本指南提供半导体和相关设备的射线照片插图。低功率晶体管(通过 TO-11 外壳配置)、二极管、低功率整流器、功率器件和集成电路均以常见的装配特征进行说明。这些设备的特定构造区域详细说明了设计或组装的关键点。
1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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