BS EN 62047-26:2016
半导体器件. 微型机电装置. 微槽和针孔结构的描述和测量方法

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Description and measurement methods for micro trench and needle structures


标准号
BS EN 62047-26:2016
发布
2016年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS EN 62047-26:2016
 
 
引用标准
EN ISO 3274:1997 GUM-1995 ISO 129-1 ISO 3274:1996 ISO/IEC Guide 98-3:2008

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