BS ISO 16700-2016
微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南

Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Guidelines for calibrating image magnification

BS ISO 16700-2016 发布历史

BS ISO 16700-2016由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2016-07-31，并于 2016-07-31 实施。

BS ISO 16700-2016 在中国标准分类中归属于: N33 电子光学与其他物理光学仪器，在国际标准分类中归属于: 37.020 光学设备。

BS ISO 16700-2016 发布之时，引用了标准

• ISO/IEC 17025-2005 检测和校准实验室能力的一般要求
• ISO Guide 30 基准材料. 选择术语和定义
• ISO Guide 34 参考材料生产商权限的一般要求
• ISO Guide 35 ISO Guide 35-2017
• ISO 5725-1 测试方法与结果的准确度(正确度与精密度) 第1部分:基本原理与定义
• ISO/IEC Guide 98-3 扩展到任意数量的输出量

BS ISO 16700-2016的历代版本如下：

• 2004年09月29日 BS ISO 16700-2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
• 2016年07月31日 BS ISO 16700-2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南

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标准号

BS ISO 16700-2016

发布日期

2016年07月31日

实施日期

2016年07月31日

废止日期

无

中国标准分类号

N33

国际标准分类号

37.020

发布单位

GB-BSI

引用标准

ISO/IEC 17025-2005 ISO Guide 30 ISO Guide 34 ISO Guide 35 ISO 5725-1 ISO/IEC Guide 98-3 GUM-1995

被代替标准

BS ISO 16700-2004