BS EN 60749-28:2017
半导体器件. 机械和气候试验方法. 静电放电(ESD)灵敏度试验. 带电器件模型(CDM). 器件级

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). Device level

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标准号: BS EN 60749-28:2017
发布: 2017年
发布单位: 英国标准学会
当前最新: BS EN 60749-28:2017

引用标准: EN 60749-26 (IEC 60749-26-2013) AS IEC 60749-26-2013 ED3

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