ASTM D5796-10(2015)
使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin-Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device

被代替

标准号

ASTM D5796-10(2015)

发布

2010年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM D5796-20

当前最新

ASTM D5796-20

 

 

引用标准

ASTM D3794

1.1 此测试该方法涵盖通过对钻入涂膜的精密切割的浅角度凹坑进行显微观察来测量涂膜的干膜厚度（DFT）。该凹坑显示出呈环状的横截面层，其宽度与涂层的深度成正比，并允许直接计算干膜厚度。 1.1.1 设备、程序、精度和偏差的讨论包括方法 A 和方法 B。方法 A 涉及使用光学测量设备，该设备已不再市售，但仍然是干膜测量的有效方法。方法 B 是取代...

推荐