DIN IEC/TS 62132-9-2015
集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法 (IEC/TS 62132-9-2014)

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method (IEC/TS 62132-9:2014)

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标准号

DIN IEC/TS 62132-9-2015

发布日期

2015年08月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L55

国际标准分类号

31.200

发布单位

DE-DIN

引用标准

DIN IEC/TS 61967-3-2015 DIN EN 62132-1-2006 IEC 60050-55-1970 IEC 60050-101-1998 IEC 60050-102-2007 IEC 60050-103-2009 IEC 60050-111-1996 IEC 60050-111 AMD 1-2005 IEC 60050-112-2010 IEC 60050-113-2011 IEC 60050-113 Corrigendum 1-2011 IEC 60050-113 AMD 1-2

被代替标准

DIN IEC/TS 62132-9-2012

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