ISO 10110-14:2018
光学和光子学. 光学元件和系统的制图准备. 第14部分: 波阵面变形公差

Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 14: Wavefront deformation tolerance

ISO 10110-14:2018 发布历史

ISO 10110-14:2018由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2018-11-01。

ISO 10110-14:2018 在中国标准分类中归属于: N30 光学仪器综合，在国际标准分类中归属于: 01.100.20 机械工程制图,37.020 光学设备。

ISO 10110-14:2018 发布之时，引用了标准

• ISO 10110-1:2006 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第1部分:总则
• ISO 14999-4:2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定

ISO 10110-14:2018的历代版本如下：

• 2018年 ISO 10110-14:2018 光学和光子学. 光学元件和系统的制图准备. 第14部分: 波阵面变形公差
• 2007年 ISO 10110-14:2007 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第14部分:波阵面变形公差
• 2003年 ISO 10110-14:2003 光学及光学仪器.光学元件和系统图形的制备.第14部分:波前变形公差

本文件规定了通过光学元件或组件反射的波前的允许变形的指示规则。 本文件也适用于使用具有一般表面的光学系统（ISO 10110-19） ）。 波前的变形是指其偏离所需形状。 本文档排除了波前相对于给定参考表面的倾斜。 不要求指示波前变形的公差。

标准号

ISO 10110-14:2018

发布

2018年

发布单位

国际标准化组织

当前最新

ISO 10110-14:2018

 

 

引用标准

ISO 10110-1:2006 ISO 14999-4:2015

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