SJ/T 2658.6-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率

Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode.Part 6: Radiant power

SJT2658.6-2015, SJ2658.6-2015


 

 

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标准号
SJ/T 2658.6-2015
别名
SJT2658.6-2015, SJ2658.6-2015
发布
2015年
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ/T 2658.6-2015
 
 
引用标准
GB/T 2900.65-2004 SJ/T 2658.1
被代替标准
SJ 2658.6-1986
适用范围
本部分规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)辐射功率的测量原理图、测量步骤以及规定条件。 本部分适用于半导体红外发射二极管。

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