SJ/T 2658.1-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则

Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode.Part 1: General

SJT2658.1-2015, SJ2658.1-2015


 

 

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标准号
SJ/T 2658.1-2015
别名
SJT2658.1-2015, SJ2658.1-2015
发布
2015年
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ/T 2658.1-2015
 
 
被代替标准
SJ 2658.1-1986
适用范围
本部分规定了对半导体红外发射二极管(以下简称器件)进行光电参数测量的一般要求，包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。 本部分适用于半导体红外发射二极管。

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