ISO 11775:2015
表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
Surface chemical analysis - Scanning-probe microscopy - Determination of cantilever normal spring constants
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：ISO 11775:2015 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- ISO 11775:2015
- 发布
- 2015年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 11775:2015
- 引用标准
- ISO 18115-2:2013
- 本国际标准描述了五种测定原子力显微镜悬臂正常弹簧常数的方法，精度为 5% 至 10%。 每种方法都属于维度、静态实验和动态实验方法三类之一。 所选择的方法取决于分析人员的目的、便利性和可用的仪器。 为了获得高于 5% 到 10% 的精度，需要使用此处未描述的更复杂的方法。
ISO 11775:2015相似标准
推荐
Nature I Scientific Reports I 无静电压电力显微镜
从公式中也可知道探针的弹性常数与静电力有关，即，施加的直流电压大小和表面电势之差成正比，与悬臂的弹簧常数成反比。 相同的实验方法，如图3（d-f）中所演示的，使用弹簧力为〜42 N / m的AFM探针进行了额外的PFM测量。有趣的是，与使用3 N / m悬臂获得的PFM图像不同，使用42 N / m悬臂获得了清晰的PFM图像，结果如图3（d–f）所示。...
SILICON SEMICONDUCTOR I 高真空对于电扫描探针显微镜的优势
在C-AFM中，悬臂梁与材料表面接触，并且同时记录形貌和电流。为了测量电流，在样品台上施加一个偏压，并通过连接到导电AFM探针的外部电流放大器来测量电流。材料的电接触是通过在材料的顶部和侧面涂上银漆来实现的。我们使用商用Pt-Ir涂层探针，如PPP-CONTSCPt或PPP-NCSTPt，其标称弹簧常数在0.2-7N/m之间。...
纳米尺度下的化学表征：AFM-IR
扫描探针显微镜的问世是表面科学的一次里程碑式的进步，人们从此真正“看到”了材料表面的原子像、分子在基底的组装结构以及实现了对原子/分子的操纵（图1）。其中，原子力显微镜（AFM）以及扫描隧道显微镜（STM）分别利用扫描探针与基底间作用力和隧穿电流的变化来对表面的形貌与物理性质进行高空间分辨率（面向小于10 nm）的表征，已经被广泛地应用于材料科学的研究当中（Surf. Sci....
Better in Vacuum I 用高真空环境为电学原子力显微镜带来优势
C-AFM 通过使用 AFM 探针作为纳米级电探针，能够同时测量样品的形貌和电学特性（电导率）。更具体地说，当施加偏压时，它检测导电针尖和样品之间的电流流动。同时，当针尖在样品表面上扫描时，它会记录悬臂挠度，从而产生三维图像。可以在接触模式，轻敲模式或 PinPoint™ 模式下进行测量。...