DIN EN 60749-44:2017
半导体器件.机械和气候试验方法.第44部分:半导体设备的中子束照射单粒子效应(SEE)试验方法(IEC 60749-44-2016);德文版本EN 60749-44-2016
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 60749-44:2016); German version EN 60749-44:2016
- 标准号
- DIN EN 60749-44:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN EN 60749-44:2017
- 引用标准
- IEC 60749-38-2008 IEC 62396-4-2013 IEC 62396-5-2014
- 被代替标准
- DIN EN 60749-44:2014
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