PN-EN IEC 60749-30-2021-05 E
半导体器件 机械和气候测试方法 第30部分：可靠性测试前非密封表面贴装器件的预处理（IEC 60749-30:2020）

Semiconductor devices -- Mechanical and climatic test methods -- Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2020)

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标准号

PN-EN IEC 60749-30-2021-05 E

发布

2021年

发布单位

PL-PKN

 

 

代替标准

PN-EN 60749-30-2007 P PN-EN 60749-30-2007/A1-2011 E

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