红外线 厚度仪

本专题涉及红外线 厚度仪的标准有1条。

国际标准分类中，红外线 厚度仪涉及到半导体材料。

在中国标准分类中，红外线 厚度仪涉及到元素半导体材料。

德国标准化学会，关于红外线 厚度仪的标准

• DIN 50437-1979 半导体无机材料的试验.用红外线干涉法测量硅外延生长层的的厚度

本站其他标准专题： 红外线 厚度仪，红外线，《红外线，红外线厚度仪，+++++红外线，红外线 粉，钬+ 红外线，红外线 法，钬+红外线，红外线 糖，红外线 纸，红外 厚度，红外厚度仪，红外线 硅，光谱 红外线，红外线 光谱，红外线 检测，红外线 液体，红外线 水平，红外线 外壳。