原子力显微镜 近场探针

本专题涉及原子力显微镜 近场探针的标准有8条。

国际标准分类中，原子力显微镜 近场探针涉及到分析化学、长度和角度测量。

在中国标准分类中，原子力显微镜 近场探针涉及到基础标准与通用方法。

国际标准化组织，关于原子力显微镜 近场探针的标准

• ISO 21222-2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
• ISO 13095:2014 表面化学分析 - 原子力显微镜 - 用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序
• ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序

英国标准学会，关于原子力显微镜 近场探针的标准

• BS ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序

，关于原子力显微镜 近场探针的标准

• GOST R 8.700-2010 确保测量一致性的国家体系.利用原子力扫描探针显微镜进行测量的表面粗糙度效果测高法
• GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
• GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
• GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法

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