高倍电子显微镜结构分析

本专题涉及高倍电子显微镜结构分析的标准有21条。

国际标准分类中,高倍电子显微镜结构分析涉及到光学设备、空气质量、危险品防护。

在中国标准分类中,高倍电子显微镜结构分析涉及到放大镜与显微镜、电子光学与其他物理光学仪器、环境卫生、建材原料矿、卫生、安全、劳动保护。


国际标准化组织,关于高倍电子显微镜结构分析的标准

  • ISO 29301-2017 微光束分析.分析电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
  • ISO 29301-2010 微光束分析.分析的透射电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
  • ISO 29301:2010 微束分析——分析透射电子显微镜——用具有周期结构的标准物质校准图像放大率的方法

美国材料与试验协会,关于高倍电子显微镜结构分析的标准

  • ASTM D5755-09(2014)e1 通过透射电子显微镜对石棉结构数表面加载的微尘真空取样和间接分析灰尘的标准测试方法
  • ASTM D6480-05(2010) 间接制备表面擦拭取样和用透射电子显微镜分析石棉结构数浓度的标准试验方法
  • ASTM D5755-09 通过透射电子显微镜对石棉结构数表面加载的微尘真空取样和间接分析灰尘的标准测试方法
  • ASTM D5755-2009(2014)e1 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM D5755-2009 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM D6480-05 间接制备表面擦拭取样和用透射电子显微镜分析石棉结构数浓度的标准试验方法
  • ASTM D6480-2005(2010) 用透射电子显微镜对表面擦拭取样中石棉结构值浓度间接制备和分析的标准试验方法
  • ASTM D6480-2005 用透射电子显微镜检查法对石棉结构数密度进行表面的擦拭取样、间接制备和分析的标准试验方法
  • ASTM D5755-03 通过透射电子显微镜对石棉结构数表面加载的微尘真空取样和间接分析灰尘的标准测试方法
  • ASTM D5755-2003 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM D5755-02 用透射电子显微镜对石棉结构数浓度进行微绒毛取样和粉尘间接分析的标准试验方法
  • ASTM D5755-2002 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM D6480-99 间接制备表面擦拭取样和用透射电子显微镜分析石棉结构数浓度的标准试验方法
  • ASTM D6480-1999 用传输电子显微镜检查法对石棉结构数密度进行表面抽样、间接制备和分析的标准试验方法
  • ASTM D5755-95 用透射电子显微镜对石棉结构数浓度进行微绒毛取样和粉尘间接分析的标准试验方法
  • ASTM D5755-1995 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法

英国标准学会,关于高倍电子显微镜结构分析的标准

  • BS ISO 29301-2010 微光束分析.分析透射电子显微镜法.利用具有周期性结构的标准物质进行标定图像放大的方法
  • BS ISO 29301-2010 微光束分析.分析透射电子显微镜法.利用具有周期性结构的标准物质进行标定图像放大的方法




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