光谱的描述
本专题涉及光谱的描述的标准有24条。
国际标准分类中，光谱的描述涉及到分析化学、废物、光学和光学测量。
在中国标准分类中，光谱的描述涉及到基础标准与通用方法、环境污染物监测方法、化学、光学计量仪器、色谱仪、电化学、热化学、光学式分析仪器。
英国标准学会，关于光谱的描述的标准
- BS ISO 15470-2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 15470-2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 15470-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 15471-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
国际标准化组织，关于光谱的描述的标准
- ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 15470-2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 15471-2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
德国标准化学会，关于光谱的描述的标准
- DIN CEN/TR 16176-2012 废物特性描述.通过现场核实的X射线荧光光谱法元素组成的筛选方法.德文版本CEN/TR 16176-2011
日本工业标准调查会，关于光谱的描述的标准
- JIS K0161-2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- JIS K0162-2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
美国材料与试验协会，关于光谱的描述的标准
- ASTM E1832-2008 描述直流原子光谱发射计特性的标准操作
- ASTM E1944-1998(2013) 描述和测量实验室傅里叶变换近红外线 (FT-NIR) 光谱分析仪性能的标准操作规程: 零级和一级试验
- ASTM E1944-1998 描述和测量实验室傅里叶变换近红外线(FT-NIR)光谱分析仪性能的标准操作规程:零级和一级试验
- ASTM E1944-1998(2002) 描述和测量实验室傅里叶变换近红外线(FT-NIR)光谱分析仪性能的标准操作规程:零级和一级试验
- ASTM E1944-1998(2007) 描述和测量实验室傅里叶变化近红外线(FT－NIR)光谱分析仪性能的标准实施规程;零级和一级试验
- ASTM E1832-1996e2 描述直流等离子体光谱发射计特性的标准实施规范
韩国标准，关于光谱的描述的标准
- KS D ISO 15471-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- KS D ISO 15470-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- KS D ISO 15470-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- KS D ISO 15471-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
澳大利亚标准协会，关于光谱的描述的标准
- AS ISO 15470-2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
- AS ISO 15470-2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
