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断路器 目视检查什么

本专题涉及断路器 目视检查什么的标准有18条。

国际标准分类中，断路器 目视检查什么涉及到水果、蔬菜及其制品、建筑材料、集成电路、微电子学。

在中国标准分类中，断路器 目视检查什么涉及到电子元器件、电力半导体器件、部件、半导体集成电路。

欧洲航空工业协会，关于断路器 目视检查什么的标准

• AECMA PREN 3841-201-1996 航空航天系列. 断路器试验方法.第201部分:目视检查

德国标准化学会，关于断路器 目视检查什么的标准

• DIN EN 3841-201:2005-09 航空航天系列断路器试验方法第201部分：目视检查

ES-UNE，关于断路器 目视检查什么的标准

• UNE-EN 3841-201:2004 航空航天系列 断路器 测试方法 第201部分：目视检查

SCC，关于断路器 目视检查什么的标准

• NS-EN 3841-201:2004 航空航天系列断路器试验方法 第201部分：目视检查
• DANSK DS/EN 3841-201:2005 航空航天系列断路器试验方法 第201部分：目视检查

欧洲航空航天和国防工业标准化协会，关于断路器 目视检查什么的标准

• ASD-STAN PREN 3841-201-1996 航空航天系列．断路器．试验方法．第201部分:目视检验;第P1版

韩国科技标准局，关于断路器 目视检查什么的标准

• KS C IEC 60748-11-1-2020 半导体器件 集成电路 第11部分 1：半导体集成电路（混合电路除外）的内部目视检查
• KS C IEC 60748-11-1:2004 半导体器件.集成电路.第11部分第1节:半导体集成电路(混合电路除外)内部目视检查
• KS C IEC 60748-11-1-2004(2020) 半导体器件集成电路第11－1部分:不包括混合电路的半导体集成电路内部目视检查
• KS C IEC 60748-20-1-2019 半导体器件 集成电路 第20部分：薄膜集成电路和混合薄膜集成电路通用规范 第1节：内部目视检查要求
• KS C IEC 60748-20-1-2003(2019) 半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 - 第1部分:内部目视检查的要求

GSO，关于断路器 目视检查什么的标准

• BH GSO IEC 60748-11-1:2016 半导体器件 集成电路 第11-1部分：半导体集成电路（不包括混合电路）的内部目视检查
• OS GSO IEC 60748-23-2:2014 半导体器件 集成电路 第23-2部分：混合集成电路和薄膜结构 生产线认证 内部目视检查和特殊测试
• BH GSO IEC 60748-20-1:2016 半导体器件集成电路 第20部分：薄膜集成电路和混合薄膜集成电路通用规范 第1节：内部目视检查的要求
• OS GSO IEC 60748-20-1:2014 半导体器件集成电路 第20部分：薄膜集成电路和混合薄膜集成电路通用规范 第1节：内部目视检查的要求

英国标准学会，关于断路器 目视检查什么的标准

• BS IEC 60748-23-2:2002 半导体器件.集成电路.混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.内部目视检查和特殊试验

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components，关于断路器 目视检查什么的标准

• QC 763000-1994 半导体器件 集成电路 第20部分：薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 第 1 节：内部目视检查要求（IEC 748-20-1 ED 1）
• QC 165000-2-2002 半导体器件 集成电路 第 23-2 部分：混合集成电路和薄膜结构 生产线认证 内部目视检查和特殊测试（第一版；IEC 60748-23-2）

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