材料 显微镜

本专题涉及材料 显微镜的标准有25条。

国际标准分类中,材料 显微镜涉及到电线和电缆、分析化学、物理学、化学、空气质量、光学设备、绝缘材料、化工产品、半导体材料。

在中国标准分类中,材料 显微镜涉及到电缆及其附件、、气体介质与放射性物质采样方法、大气环境有毒害物质分析方法、放大镜与显微镜、电工绝缘材料及其制品、火工产品、光通信设备、元素半导体材料。


国家质检总局,关于材料 显微镜的标准

  • GB/T 2951.41-2008 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法.第41部分:聚乙烯和聚丙烯混合料专用试验方法.耐环境应力开裂试验.熔体指数测量方法.直接燃烧法测量聚乙烯中碳黑和(或)矿物质填料含量.热重分析法(TGA)测量碳黑含量.显微镜法评估聚乙烯中碳黑分散度

,关于材料 显微镜的标准

  • SANS 60811-4-1-2004 电缆和光缆绝缘和护套材料的通用试验方法.第4.1部分:聚乙烯和聚丙烯化合物专用方法.抗环境应力致裂.熔化流动指数测量.通过直接燃烧测量聚乙烯中炭黑和/或矿物填料含量.通过热重分析法(TGA)测量炭黑含量.用显微镜评定聚乙烯中炭黑的扩散

国际标准化组织,关于材料 显微镜的标准

  • ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
  • ISO 22262-2:2014 空气质量. 散装材料. 第2部分: 使用重量分析和显微镜法对石棉进行定量测定
  • ISO 8255-2:2013 显微镜. 盖玻片. 第2部分: 材料质量, 成品标准和包装模式
  • ISO 8037-2:1997/cor 1:2002 光学和光学仪器.显微镜.载玻片.第2部分:材料质量、成品标准和包装模式.技术勘误1
  • ISO 8255-2:1997 光学和光学仪器 显微镜 盖玻片 第2部分:材料质量、成品标准和包装模式
  • ISO 8037-2:1997 光学和光学仪器 显微镜 载玻片 第2部分:材料质量、成品标准和包装模式

中国团体标准,关于材料 显微镜的标准

日本工业标准调查会,关于材料 显微镜的标准

  • JIS A1481-4-2016 空气质量. 散装材料. 第4部分: 以重量分析法和显微镜法定量测定石棉
  • JIS C3660-4-1-2011 电缆绝缘和护套材料.通用试验方法.第4-1部分:聚乙烯和聚丙烯化合物用专门方法.耐环境应力分裂.熔融指数测量.用直接燃烧技术测量聚乙烯内的炭黑和/或矿物填料含量.热重量分析测定炭黑(TGA)含量.用显微镜评定聚乙烯内炭黑分散体

法国标准化协会,关于材料 显微镜的标准

  • NF X43-066-2-2014 空气质量. 散装材料. 第2部分: 使用重量分析和显微镜法对石棉进行定量测定
  • NF T70-360-2007 国防用高能材料.物理化学分析和特性.用显微镜法测量增塑剂和/或阻化剂的渗透深度
  • NF C32-031-2004 电缆和光缆的绝缘和护套材料.通用试验方法.第4-1部分:聚乙烯和聚丙烯化合物专用方法.抗环境应力致裂.熔化流动指数测量.通过直接燃烧测量聚乙烯中炭黑和/或矿物填料含量.通过热重分析法(TGA)测量炭黑含量.用显微镜评定聚乙烯中炭黑的扩散

英国标准学会,关于材料 显微镜的标准

  • BS ISO 22262-2:2014 空气质量. 散装材料. 使用重量分析和显微镜法对石棉进行定量测定
  • BS ISO 8255-2:2013 显微镜. 盖玻片. 材料质量, 成品标准和包装模式
  • BS EN 60811-4-1-2004 电缆和光缆的绝缘和护套材料.通用试验方法.聚丙烯和聚丙烯化合物专用方法.抗环境应力致裂.熔化流动指数测量.直接燃烧法测量聚乙烯(PE)中炭黑和/或矿物填充物的含量.热重分析法(TGA)测量炭黑含量.用显微镜评估聚乙烯中炭黑的分散
  • BS 7011-2.2-1998 光学显微镜的消耗性附件.载玻片.精加工材料和质量规范
  • BS 7011 Pt.3 Sec.3.2-1990 光学显微镜用消耗性附件.第3部分:封盖玻璃.第2节:精加工材料和质量规范

行业标准-商品检验,关于材料 显微镜的标准

  • SN/T 3798-2014 建筑与汽车材料中石棉检测方法偏光显微镜法

国际电工委员会,关于材料 显微镜的标准

  • IEC 60811-4-1:2004 电缆和光缆绝缘和护套材料的通用试验方法.第4-1部分:聚乙烯和聚丙烯化合物专用方法.抗环境应力致裂.熔化流动指数测量.通过直接燃烧测量聚乙烯中炭黑和/或矿物填料含量.通过热重分析法(TGA)测量炭黑含量.用显微镜评定聚乙烯中炭黑的扩散

德国标准化学会,关于材料 显微镜的标准

  • DIN 50452-1-1995 半导体工艺用材料的检验.液体中粒子分析的试验方法.第1部分:粒子的显微镜测定




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