中子 光谱

本专题涉及中子 光谱的标准有32条。

国际标准分类中，中子 光谱涉及到辐射测量、集成电路、微电子学、橡胶和塑料制品、核能工程。

在中国标准分类中，中子 光谱涉及到核反应堆综合、核仪器与核探测器综合、半导体二极管、辐射防护与监测综合、半导体三极管。

美国材料与试验协会，关于中子 光谱的标准

• ASTM E261-16(2021) 用放射性技术测定中子注量、注量率和光谱的标准实施规程
• ASTM E1855-20 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• ASTM E720-16 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南
• ASTM E261-16 通过放射活化技术测定中子荧光 荧光率和光谱的标准实践
• ASTM E1855-15 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• ASTM E261-15 通过放射活化技术测定中子荧光 荧光率和光谱的标准实践
• ASTM E1855-2015 作为中子光谱传感器和位移破坏性监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
• ASTM E944-2013 反应堆监测时中子光谱调节法应用的标准指南, E706 (IIA)
• ASTM E720-11 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南
• ASTM E720-2011 电子辐射强度测试中测定中子光谱的中子传感器的选择和应用标准指南
• ASTM E1855-10 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• ASTM E261-10 通过放射活化技术测定中子荧光 荧光率和光谱的标准实践
• ASTM E1855-2010 使用2N2222A硅双极晶体管作中子光谱传感器和位移损坏监控器的标准试验方法
• ASTM E720-08 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南
• ASTM E944-2008 反应堆监测时中子光谱调节法的应用的标准指南,E 706(IIA)
• ASTM E1855-05 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• ASTM E1855-05e1 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• ASTM E1855-2005 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法
• ASTM E1855-2005e1 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法
• ASTM E1855-04e1 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• ASTM E720-04 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南
• ASTM E720-04e1 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南
• ASTM E1855-04 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• ASTM E1855-2004 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
• ASTM E1855-2004e1 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
• ASTM E261-03 通过放射活化技术测定中子荧光 荧光率和光谱的标准实践
• ASTM E720-02 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南
• ASTM E944-2002 反应堆监测时中子光谱调节法的应用的标准指南,E 706(IIA)
• ASTM E261-98 通过放射活化技术测定中子荧光 荧光率和光谱的标准实践
• ASTM E1855-96 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• ASTM E1855-1996 作为中子光谱传感器和位移破坏性监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
• ASTM E944-1996 反应堆监测时中子光谱调节法的应用

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