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为了与x射线分析仪器界

本专题涉及为了与x射线分析仪器界的标准有5条。

国际标准分类中，为了与x射线分析仪器界涉及到分析化学、信息技术应用。

在中国标准分类中，为了与x射线分析仪器界涉及到基础标准与通用方法。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于为了与x射线分析仪器界的标准

• GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告

韩国科技标准局，关于为了与x射线分析仪器界的标准

• KS D ISO 16413:2021 用X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度.仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告

KR-KS，关于为了与x射线分析仪器界的标准

• KS D ISO 16413-2021 用X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度.仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告

国际标准化组织，关于为了与x射线分析仪器界的标准

• ISO 16413:2020 通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告

英国标准学会，关于为了与x射线分析仪器界的标准

• BS ISO 16413:2020 通过 X 射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、对准和定位、数据收集、数据分析和报告

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