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怎样分析能谱 数据
本专题涉及怎样分析能谱 数据的标准有45条。
国际标准分类中，怎样分析能谱 数据涉及到无损检测、分析化学、信息技术应用、核能工程、空气质量、涂料和清漆。
在中国标准分类中，怎样分析能谱 数据涉及到基础标准与通用方法、电子计算机应用、通用核仪器、工业防尘防毒技术、涂料、涂料基础标准与通用方法、涂料辅助材料、化学。
美国材料与试验协会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
法国标准化协会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- NF ISO 16242:2012 表面化学分析 俄歇电子能谱(AES)数据记录和报告
- NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
- NF T36-030-3*NF EN ISO 16773-3:2016 涂层和未涂层金属样品的电化学阻抗谱（EIS） 第3部分：假电池数据的处理和分析
- FD CEN/TR 13205-3:2014 工作场所暴露-气溶胶浓度测量仪器的性能评估-第3部分：采样效率数据分析
- NF T36-030-3:2009 涂料和清漆.高阻抗涂层样品的电化学阻抗频谱(EIS).第3部分:空单元数据的加工和分析
- FD X43-283-3*FD CEN/TR 13205-3:2014 工作场所暴露 空气悬浮粒子浓度测量仪器性能评估 第3部分：采样效率数据分析
- NF EN ISO 16773-3:2016 涂层和未涂层金属样品的电化学阻抗谱 (EIS) - 第 3 部分：从测试电池获得的数据的处理和分析
国际标准化组织，关于怎样分析能谱 数据的标准
- ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO 16773-3:2009 油漆和清漆.高阻抗涂层试样的电化学阻抗谱(EIS).第3部分:虚拟单元样本数据的加工和分析
- ISO 16773-3:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱 (EIS). 第3部分: 虚拟单元数据的处理和分析
英国标准学会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- BS ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS PD CEN/TR 13205-3:2014 工作场所暴露. 空气载粒子浓度测量用采样器的性能评估. 采样效率数据的分析
- BS EN ISO 16773-3:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱 (EIS). 虚拟单元数据的处理和分析
- BS EN ISO 16773-3:2009 涂料和清漆.高阻抗涂层试样的电化学阻抗频谱(EIS).虚拟单元的数据处理和分析
- 19/30364173 DC BS ISO 22581 通过 XPS 进行表面化学分析 数据管理和处理 来自 X 射线光电子能谱调查扫描的近实时信息 识别和纠正表面污染的规则
德国标准化学会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- DIN ISO 16242:2020-05 表面化学分析 在俄歇电子能谱(AES)中记录和报告数据
- DIN EN ISO 16773-3:2016-12 涂层和未涂层金属样品的电化学阻抗谱(EIS)第3部分：虚拟电池数据的处理和分析
- DIN ISO 16242:2020 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）中的数据记录和报告（ISO 16242:2011）；英文文本
- DIN EN ISO 16773-3:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱(EIS).第3部分:虚拟单元数据的处理和分析(ISO 16773-3-2016).德文版本EN ISO 16773-3-2016
- DIN EN ISO 16773-3:2009 色漆和清漆.高阻抗涂层试样的电化学阻抗谱(EIS).第3部分:由仿真电池获得的数据的处理和分析(ISO 16773-3-2009).英文版本DIN EN ISO 16773-3-2009-09
美国国家标准学会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- ANSI/IEEE 1214:1992 核能谱学的标准多通道分析器频率分布图数据交换格式
美国电气电子工程师学会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- IEEE 1214-1992 核能谱学的标准多通道分析器频率分布图数据交换格式
- IEEE Std 1214-1992 用于核能谱学的 IEEE 标准多通道分析仪（MCA）直方图数据交换格式
国际电工委员会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- IEC 61455:1995 核仪器 核能谱测定用多道分析器直方图数据交换格式
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- GB/T 32565-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
- GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
欧洲标准化委员会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- PD CEN/TR 13205-3:2014 工作场所暴露.大气颗粒物浓度测量的抽样性能评价.第3部分.采样效率数据分析
- CEN/TR 13205-3:2014 工作场所暴露 用于测量空气中颗粒浓度的采样器性能评估 第3部分：采样效率数据分析
- EN ISO 16773-3:2016 电化学阻抗谱(EIS)涂层和无涂层的金属试样的第3部分:从虚拟细胞的数据处理与分析(ISO 16773-3:2016)
- EN ISO 16773-3:2009 油漆及清漆.高阻抗涂层试样的电化学阻抗谱(EIS).第3部分:由仿真电池获得的数据的处理和分析
ES-UNE，关于怎样分析能谱 数据的标准
- UNE-EN ISO 16773-3:2016 涂层和未涂层金属样品的电化学阻抗谱(EIS)第3部分：虚拟电池数据的处理和分析
AENOR，关于怎样分析能谱 数据的标准
- UNE-CEN/TR 13205-3:2015 IN 工作场所暴露 用于测量空气中颗粒浓度的采样器性能评估 第3部分：采样效率数据分析
丹麦标准化协会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- DS/EN ISO 16773-3:2009 油漆和清漆 高阻抗涂层样品的电化学阻抗谱（EIS） 第3部分：假电池数据的处理和分析
韩国科技标准局，关于怎样分析能谱 数据的标准
- KS M ISO 16773-3:2018 涂料和上高阻抗涂层样品清漆SUL电化学阻抗谱（EIS）SUL第3部分:处理和从伪单元数据的分析
- KS M ISO 16773-3:2013 涂料和清漆.高阻抗涂层样品的电化学阻抗频谱(EIS).第3部分:由仿真电池获得的数据的处理和分析
KR-KS，关于怎样分析能谱 数据的标准
- KS M ISO 16773-3-2018 涂料和上高阻抗涂层样品清漆SUL电化学阻抗谱（EIS）SUL第3部分:处理和从伪单元数据的分析
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于怎样分析能谱 数据的标准
- GB/T 39482.3-2020 涂漆和未涂漆金属试样的电化学阻抗谱（EIS） 第3部分：从模拟电解池获得数据的处理和分析
立陶宛标准局，关于怎样分析能谱 数据的标准
- LST EN ISO 16773-3:2009 油漆和清漆 高阻抗涂层样品的电化学阻抗谱（EIS） 第3部分：假电池数据的处理和分析（ISO 16773-3:2009）
RU-GOST R，关于怎样分析能谱 数据的标准
- GOST R ISO 16242-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 俄歇电子能谱学 (AES) 的记录和报告数据
- GOST R ISO 16243-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. X射线光电子能谱 (XPS) 的记录和报告数据
