场发射扫描和
本专题涉及场发射扫描和的标准有14条。
国际标准分类中，场发射扫描和涉及到集成电路、微电子学、医疗设备、电磁兼容性(EMC)。
在中国标准分类中，场发射扫描和涉及到半导体集成电路、微电路综合、电磁兼容。
国际电工委员会，关于场发射扫描和的标准
- IEC TR 61967-1-1:2015 集成电路.电磁发射的测量.第1-1部分:一般条件和定义.近场扫描数据交换格式
- IEC TR 61967-1-1-2015 集成电路.电磁发射的测量.第1-1部分:一般条件和定义.近场扫描数据交换格式
- IEC TS 61967-3-2014 集成电路.电磁发射的测量.第3部分:辐射发射的测量.表面扫描法
- IEC 47A/925/DTS-2014 IEC/TS 61967-3, Ed. 2:集成电路.电磁发射的测量.第3部分:辐射发射的测量.表面扫描法
- IEC 47A/912/CD-2013 IEC/TS 61967-3, Ed. 2:集成电路.电磁辐射测量.第3部分:辐射发射测量.表面扫描法
- IEC 47A/900/CD-2013 IEC/TS 61967-3, Ed. 2:集成电路.电磁发射的测量.第3部分:辐射发射的测量.表面扫描法
- IEC 47A/880/CD-2012 集成电路.电磁发射的测量.第3部分:辐射发射的测量.表面扫描法
- IEC TR 61967-1-1:2010 集成电路.电磁发射的测量.第1-1部分:一般条件和定义.近场扫描数据交换格式
- IEC TR 61967-1-1-2010 集成电路.电磁发射的测量.第1-1部分:一般条件和定义.近场扫描数据交换格式
- IEC TS 61967-3-2005 集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第3部分:辐射发射的测量.表面扫描法
德国标准化学会，关于场发射扫描和的标准
- DIN IEC/TS 61967-3:2015 集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法(IEC/TS 61967-3-2014)
- DIN IEC/TS 61967-3:2012 集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法. 集成电路(IEC 47A/880/CD-2012)
，关于场发射扫描和的标准
- GOST R 56109-2014 医疗电气设备. 计算机断层扫描用联合X射线设备的正电子发射断层扫描设备. 政府采购技术要求
行业标准-邮电通信，关于场发射扫描和的标准
- YD/T 1690.3-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz～1GHz）第3部分：辐射发射测量 外表扫描方法
