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单晶怎么确定

本专题涉及单晶怎么确定的标准有12条。

国际标准分类中，单晶怎么确定涉及到频率控制和选择用压电器件与介质器件、半导体材料。

在中国标准分类中，单晶怎么确定涉及到元素半导体材料。

英国标准学会，关于单晶怎么确定的标准

• BS EN 60444-5:1997 石英晶体单元参数的测量 使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法

丹麦标准化协会，关于单晶怎么确定的标准

• DS/EN 60444-5:1998 石英晶体单元参数的测量 第5部分：使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法
• DS/EN 60444-11:2011 石英晶体单元参数的测量 第11部分：使用自动网络分析仪技术和误差校正确定负载谐振频率 fL 和有效负载电容 CLeff 的标准方法

ES-UNE，关于单晶怎么确定的标准

• UNE-EN 60444-5:1997 测量石英晶体单元参数 第5部分：使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电气参数的方法

德国标准化学会，关于单晶怎么确定的标准

• DIN 50439:1982 半导体技术材料的试验.用电容--电压法和水银接点确定单晶层半导体材料中掺杂剂的浓度分布曲线
• DIN EN 60444-5:1997-10 石英晶体单元参数的测量 - 第 5 部分：使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法（IEC 60444-5:1995）

立陶宛标准局，关于单晶怎么确定的标准

• LST EN 60444-5-2001 石英晶体单元参数的测量 第5部分：使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法（IEC 60444-5:1995）
• LST EN 60444-11-2011 石英晶体单元参数的测量 第11部分：使用自动网络分析仪技术和误差校正确定负载谐振频率 fL 和有效负载电容 CLeff 的标准方法（IEC 60444-11:2010

韩国科技标准局，关于单晶怎么确定的标准

• KS C IEC 60444-11:2016 石英晶体单元参数的测量 第11部分：使用自动网络分析仪技术和误差校正确定负载谐振频率 fL 和有效负载电容 CLeff 的标准方法
• KS C IEC 60444-1:2016 石英晶体单元参数的测量 第11部分：使用自动网络分析仪技术和误差校正确定负载谐振频率 fL 和有效负载电容 CLeff 的标准方法

KR-KS，关于单晶怎么确定的标准

• KS C IEC 60444-11-2016 石英晶体单位参数的测量 - 第11部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定负载共振频率（f1）和有效负载电容（cleff）的标准方法
• KS C IEC 60444-1-2016 石英晶体单位参数的测量 - 第11部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定负载共振频率（f1）和有效负载电容（cleff）的标准方法

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