无损 检测 法

本专题涉及无损 检测 法的标准有2条。

国际标准分类中，无损 检测 法涉及到半导体分立器件、无损检测。

在中国标准分类中，无损 检测 法涉及到金属无损检验方法。

国际电工委员会，关于无损 检测 法的标准

• IEC 63068-3:2020 半导体器件.功率器件用碳化硅同质外延片中缺陷的无损识别标准.第3部分:用光致发光法检测缺陷的试验方法

英国标准学会，关于无损 检测 法的标准

• BS EN 583-6-2008 无损检验.超声波检验.用作间断性检测和尺寸分析方法的飞行时间测定法

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