怎么测量电磁辐射

本专题涉及怎么测量电磁辐射的标准有78条。

国际标准分类中，怎么测量电磁辐射涉及到电磁兼容性(EMC)、集成电路、微电子学、电灯及有关装置、残障人员用设备、声学和声学测量、字符集和信息编码、电信系统、半导体分立器件、词汇、电工器件。

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国家质检总局，关于怎么测量电磁辐射的标准

GB/T 17619-1998 机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法

英国标准学会，关于怎么测量电磁辐射的标准

BS EN IEC 61967-4:2021 集成电路. 电磁辐射测量. 第4部分: 电导辐射测量. 1～150Ω直接耦合法
BS PD IEC/TS 61967-3:2014 集成电路.电磁辐射的测量.放射形辐射测量.表面扫描法
BS EN 61967-2-2005 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放的测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法
BS DD IEC/TS 61967-3:2005 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.放射形辐射测量.表面扫描法
BS EN 61967-6-2002+A1-2008 集成电路.150 kHz到1 GHz电磁辐射测量.第6部分:传导辐射测量.磁探测器法
BS EN 61967-6-2002 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.磁性探测法
BS EN 61967-4-2002 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第4部分:传导辐射的测量.1ohm/150ohm直接耦合法
BS EN 61967-1-2002 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.一般条件和定义
BS EN 60255-25-2000 继电器.测量继电器和保护设备的电磁辐射试验

法国标准化协会，关于怎么测量电磁辐射的标准

NF C96-260-4-2021 集成电路. 电磁辐射的测量. 第4部分: 传导辐射的测量. 1 Ω/150 Ω直接耦合法
NF C96-260-8-2012 集成电路 - 电磁辐射的测量 - 第8部分: 放射辐射的测量 - IC带状线法.
NF C91-004-20-2011 电磁适应性(EMC).第4-20部分:试验和测量技术.横向电磁辐射和抗干扰测试(TEM)波导.
NF C96-260-4/A1-2006 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第4部分:传导辐射测量.1Ω～150Ω直接耦合法
NF C96-260-2-2006 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第2部分:TEM辐射室和宽频TEM辐射室法的辐射测量
NF C96-260-5-2003 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第5部分:工作台法拉第笼法测量感应辐射
NF C96-260-6-2003 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁探测器法
NF C96-260-4-2002 集成电路.150 kHz - 1GHz 电磁辐射的测量.第4部分:传导辐射的测量.1 欧姆/150 欧姆直接耦合法
NF C96-260-1-2002 集成电路.150 kHz - 1GHz 电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义
NF C46-022-1986 大抵适用于生产过程中材料的测量与控制的电磁兼容性.关于电磁辐射场的规定

，关于怎么测量电磁辐射的标准

JUS L.N4.209-1990 工业过程测量和控制设备的电磁兼容性．电磁场的要求，电磁辐射敏感度的测试方法和测试装置

工业和信息化部，关于怎么测量电磁辐射的标准

YD/T 1536-2018 电信设备的电磁辐射信息泄露要求和测量方法

国际电工委员会，关于怎么测量电磁辐射的标准

IEC 61967-1:2018 RLV 集成电路.电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义
IEC 61967-1-2018 集成电路电磁辐射测量第1部分:一般条件和定义
IEC 61967-1:2018 集成电路电磁辐射测量第1部分:一般条件和定义
IEC 61967-1-2018 RLV 集成电路.电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义
IEC 61967-4 CORR 1:2017 集成电路. 150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量. 第4部分: 传导发射测量; 1 Ώ/150 Ώ直接耦合法. 勘误表1
IEC 62489-2:2014 电声学.助听用音频电磁感应环路系统.第2部分:人暴露于辐射限值的评价一致性指南用环路低频电磁辐射的计算方法和测量
IEC TS 61967-3:2014 集成电路.电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法
IEC 47A/912/CD-2013 IEC/TS 61967-3, Ed. 2:集成电路.电磁辐射测量.第3部分:辐射发射测量.表面扫描法
IEC 61967-8-2011 集成电路 - 电磁辐射的测量 - 第8部分:辐射辐射的测量 - Ic线条法
IEC 61967-8:2011 集成电路的电磁辐射测量.第8部分:IC带状线法测量辐射干扰
IEC 62489-2:2011 电声学.助听用音频电磁感应环路系统.第2部分:人暴露于辐射限值的评价一致性指南用环路低频电磁辐射的计算方法和测量
IEC 61967-6 Corrigendum 1:2010 集成电路.150 kHz-1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法
IEC 61967-6 CORR 1:2010 集成电路.150 kHz-1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法
IEC 61967-6 Edition 1.1:2008 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁探针法
IEC 61967-6 AMD 1:2008 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法.修改件1
IEC 61967-4 Edition 1.1:2006 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射测量.第4部分:电导辐射测量.1～150Ω直接耦合法
IEC 61967-4 AMD 1:2006 修改件1.集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第4部分:1Ω/150Ω直接耦合法
IEC 61967-2-2005 集成电路 - 电磁辐射测量 150 Khz至1 Ghz - 第2部分:辐射辐射测量 - 温度计和宽带温度计方法
IEC 61967-2:2005 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法
IEC TS 61967-3:2005 集成电路.150 kHz 到 1 GHz电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法
IEC/TR 61967-4-1:2005 集成电路.150KHz - 1GHz电磁辐射测量.第4-1部分:传导辐射的测量.1<0hm>/150<0hm>直接耦合法.IEC 61967-4 应用指南
IEC 61967-5-2003 集成电路 - 电磁辐射测量 150 Khz至1 Ghz - 第5部分:传导排放测量 - 工作台法拉第笼式
IEC 61967-5:2003 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第5部分:感应辐射测量.工作台法拉第筒法
IEC 61967-6-2002 集成电路 - 电磁辐射测量 150赫兹至1 Ghz - 第6部分:传导发射测量 - 磁探针法
IEC 61967-6:2002 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法
IEC 61967-4-2002 集成电路 - 150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量 - 第4部分:传导发射的测量 - 1欧姆/ 150欧姆直接耦合方法
IEC 61967-1-2002 集成电路 - 150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量 - 第1部分:一般条件和定义
IEC 61967-1:2002 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义

德国标准化学会，关于怎么测量电磁辐射的标准

DIN IEC/TS 61967-3:2015 集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法(IEC/TS 61967-3-2014)
DIN EN 55015 Bb.2-2014 测量电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限制和方法; 补充件2: 电磁辐射试验方法. 第2部分: 除荧光灯以外放电灯的电子控制装置 (CISPR/TR 30-2-2012)
DIN EN 55015 Bb.1-2014 测量电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限制和方法; 补充件1: 电磁辐射试验方法. 第1部分: 单端和双端荧光灯用电子控制装置 (CISPR/TR 30-1-2012)
DIN IEC/TS 61967-3:2012 集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法. 集成电路(IEC 47A/880/CD-2012)
DIN EN 61967-8-2012 集成电路.电磁辐射的测量.第8部分:辐射发射的测量.集成电路条状线方法(IEC 61967-8-2011).德文版本 EN 61967-8-2011
DIN EN 61000-4-22-2011 电磁兼容性(EMC).第4-22部分:全消音室(FARs)(IEC 61000-4-22-2010)内进行电磁辐射和抗辐射干扰的测量试验和测量技术;德文版本EN 61000-4-22-2011
DIN EN 61967-6 Berichtigung 1-2011 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导发射测量.磁场探头方法(IEC 61967-6-2002 + A1-2008);德文版本EN 61967-6-2002 + A1-2008,DIN EN 61967-6-200的技术勘误
DIN EN 61967-6-2008 集成电路.频率为150kHz～1GHz的电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.探磁针方法
DIN EN 61967-4 Berichtigung 1-2007 集成电路.150～1kHz电磁辐射测量.第4部分:用1/150Ω直接耦合法测量传导辐射量
DIN EN 61967-4-2006 集成电路.150 kHz - 1 kHz 电磁辐射的测量.第4部分:传导释放量的测量.1Ω/150Ω直接耦合法 (IEC 61967-4:2002 + A1:2006)
DIN EN 61967-2-2006 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法(IEC 61967-2-2005).德文版本EN 61967-2-2005
DIN EN 61967-5-2003 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第5部分:传导辐射的测量.工作台法拉第筒法
DIN EN 61967-1-2003 集成电路.150 kHz - 1GHz 电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义 (IEC 61967-1:2002); 德文版本 EN 61967-1:2002

欧洲电工标准化委员会，关于怎么测量电磁辐射的标准

EN 62489-2-2011 电声学.助听用音频电磁感应环路系统.第2部分:人暴露于辐射限值的评价一致性指南用环路低频电磁辐射的计算和测量方法
EN 61967-8-2011 集成电路.电磁辐射的测量.第8部分:辐射发射的测量.IC带状线法
EN 61967-2-2005 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2:2005
EN 61967-5-2003 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第5部分:传导辐射的测量.工作台法拉第筒法 IEC 61967-5-2003
EN 61967-1-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义 IEC 61967-1:2002
EN 61967-4-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第4部分:传导辐射的测量.1 ohm/150 ohm直接耦合法;包含修改件A1-2/2006;勘误表-12/2006
EN 61967-6-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁性探测法;包含修改件A1:2008年5月

加拿大标准协会，关于怎么测量电磁辐射的标准

CSA IEC 61000-4-3-07-CAN/CSA:2007 电磁兼容性(EMC).第4-3部分:测试与测量技术射频电磁辐射抗扰性试验.第2版

行业标准-邮电通信，关于怎么测量电磁辐射的标准

YD/T 1536.1-2006 电信设备的电磁信息安全性要求和测量方法.第1部分:电磁辐射信息泄漏

欧洲电信标准协会，关于怎么测量电磁辐射的标准

ETSI TR 102 151-2003 智能卡.SIM卡的电磁辐射测量.版本6.0.0.第6次发布

行业标准-航天，关于怎么测量电磁辐射的标准

QJ 2350-1992 电磁辐射敏感度的测试方法横电磁波传输室测量

美国声协会，关于怎么测量电磁辐射的标准

ASA S2.20-1983 估计单一点空中爆炸空气爆炸特征和测量大气电磁辐射传播和影响ASA 20-1983

(美国)海军，关于怎么测量电磁辐射的标准

NAVY MIL-STD-1377-1971 电磁辐射到军火的阻碍危险中的电缆,连接器,武器罩屏蔽和过滤器的有效性的测量