能谱测量深度

本专题涉及能谱测量深度的标准有2条。

国际标准分类中，能谱测量深度涉及到分析化学。

在中国标准分类中，能谱测量深度涉及到基础标准与通用方法。

国际标准化组织，关于能谱测量深度的标准

• ISO 16531:2013 表面化学分析.深度剖析.原子发射光谱(AES)和光电子能谱(XPS)中深度剖析用电流或电流密度的离子束校正和相关测量方法

英国标准学会，关于能谱测量深度的标准

• BS ISO 16531:2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法

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