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能谱测量厚度
本专题涉及能谱测量厚度的标准有9条。
国际标准分类中，能谱测量厚度涉及到分析化学、表面处理和镀涂、长度和角度测量。
在中国标准分类中，能谱测量厚度涉及到基础标准与通用方法、、材料防护。
国际标准化组织，关于能谱测量厚度的标准
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
英国标准学会，关于能谱测量厚度的标准
- BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
机械电子工业部，关于能谱测量厚度的标准
- JB/T 5068-1991 金属覆盖层厚度测量 X射线光谱法
国家质检总局，关于能谱测量厚度的标准
- GB/T 16921-1997 金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法
法国标准化协会，关于能谱测量厚度的标准
- NF A91-116:1976 金属镀层.厚度的测量.用X射线光谱术
ZA-SANS，关于能谱测量厚度的标准
- SANS 3497:2008 金属镀层.涂层厚度测量.X射线光谱法
ABS - American Bureau of Shipping，关于能谱测量厚度的标准
- ABS 89-1998 船体厚度测量（测量测量）
