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雪崩二极管
本专题涉及雪崩二极管的标准有38条。
国际标准分类中，雪崩二极管涉及到光电子学、激光设备、光纤通信、印制电路和印制电路板、半导体分立器件、建筑材料、电工器件。
在中国标准分类中，雪崩二极管涉及到半导体发光器件、光通信设备、、半导体光敏器件、半导体二极管、电力半导体器件、部件、电子、电气设备、光电子器件综合、低压配电电器。
法国标准化协会，关于雪崩二极管的标准
- NF EN 61643-321:2002 低压避雷器元件 - 第 321 部分：雪崩二极管 (ABD) 规范
行业标准-兵工民品，关于雪崩二极管的标准
- WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法
- WJ 2265-1995 带前放硅雪崩光电二极管规范
行业标准-邮电通信，关于雪崩二极管的标准
- YD/T 835-1996 雪崩光电二极管检测方法
邮电部，关于雪崩二极管的标准
- YD/T 0835-1996 雪崩光电二极管检测方法
行业标准-电子，关于雪崩二极管的标准
- SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
- SJ/T 2354-2015/0352 PIN、雪崩光电二极管测试方法
- SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
- SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
- SJ 2354.6-1983 PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
- SJ 2354.13-1983 雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
- SJ 2354.4-1983 PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
- SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
- SJ 2354.14-1983 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
- SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
- SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
- SJ 2354.11-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
- SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
- SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
- SJ 2354.12-1983 雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
TH-TISI，关于雪崩二极管的标准
- TIS 1970-2000 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和稳压二极管部分信号二极管、开关二极管和受控雪崩二极管的单页详细规范
韩国科技标准局，关于雪崩二极管的标准
- KS C IEC 60747-3-1-2006(2016) 半导体器件分立器件第3部分:信号（包括开关）和稳压二极管第一节:信号二极管、开关二极管和受控雪崩二极管空白详细规范
- KS C IEC 60747-3-1-2006(2021) 半导体器件分立器件第3部分:信号（包括开关）和调节二极管第一节:信号二极管、开关二极管和受控雪崩二极管空白详细规范
- KS C IEC 60747-3-1-2021 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和稳压二极管 第一节：信号二极管、开关二极管和受控雪崩二极管的空白详细规范
- KS C IEC 60747-3-1:2006 半导体器件.分立器件.第3部分:信号二极管(包括开关二极管)和调节二极管.第1节:信号二极管、开关二极管和受控雪崩二极管空白详细规范
- KS C IEC 61643-321-2006(2019) 低压浪涌保护器元件第321部分:雪崩击穿二极管规范
国家质检总局，关于雪崩二极管的标准
- GB/T 6588-2000 半导体器件 分立器件 第3部分;信号(包括开关)和调整二极管 第一篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
- GB/T 16894-1997 大于100A，环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
国际电工委员会，关于雪崩二极管的标准
- IEC 60747-3-1:1986 半导体器件 分立器件 第3部分:信号二极管(包括开关二极管)及调整二极管 第1节:信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
贵州省地方标准，关于雪崩二极管的标准
- DB52/T 861-2013 2CB003型硅雪崩整流二极管详细规范
丹麦标准化协会，关于雪崩二极管的标准
- DS/IEC 747-3-1:1987 半导体器件．分立器件．第3部分：信号（包括开关）和调节器二极管．第1子部分：信号二极管，开关二极管和可控雪崩二极管的空白详细规范
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于雪崩二极管的标准
- JEDEC JESD210-2007 雪崩击穿二极管（ABD）瞬态电压抑制器
IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components，关于雪崩二极管的标准
- QC 750101-1986 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和稳压二极管 第一部分 信号二极管 开关二极管和受控雪崩二极管的空白详细规范（IEC 747-3-1 ED 1）
- PQC 75-1991 半导体器件 分立器件 整流二极管空白详细规范：整流二极管（包括雪崩整流二极管） 环境和外壳额定 大于 100 A
行业标准-汽车，关于雪崩二极管的标准
- QC/T 706-2004 机动车用硅雪崩整流二极管技术条件
英国标准学会，关于雪崩二极管的标准
- BS EN 61643-321:2002 低压电涌保护装置.雪崩击穿二极管(ABD)规范
日本工业标准调查会，关于雪崩二极管的标准
- JIS C 5381-321:2004 低压电涌保护设备元件.雪崩击穿二极管规范
GB-REG，关于雪崩二极管的标准
- REG NASA-LLIS-1840--2006 经验教训 CALIPSO 雪崩光电二极管（APD）探测器组件电气故障
