光谱银
本专题涉及光谱银的标准有43条。
国际标准分类中，光谱银涉及到有色金属、珠宝、金属材料试验、表面处理和镀涂。
在中国标准分类中，光谱银涉及到重金属矿、工艺美术品、贵金属及其合金分析方法、重金属及其合金分析方法、、、钢铁与铁合金分析方法、半金属及半导体材料分析方法、核材料、核燃料及其分析试验方法、材料防护。
国家质检总局，关于光谱银的标准
- GB/T 3884.9-2012 铜精矿化学分析方法 第9部分：砷和铋量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法、溴酸钾滴定法和二乙基二硫代氨基甲酸银分光光度法
- GB/T 21198.5-2007 贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 第5部分:999‰银合金首饰 银含量的测定 差减法
美国材料与试验协会，关于光谱银的标准
- ASTM C760-90(2020) 核级银 - 镉合金化学和光谱化学分析的标准测试方法
- ASTM C760-90(2015) 核级银 - 镉合金化学和光谱化学分析的标准测试方法
- ASTM C760-90(2007) 核级银 - 镉合金化学和光谱化学分析的标准测试方法
- ASTM C760-90(2002) 核级银 - 镉合金化学和光谱化学分析的标准测试方法
- ASTM C760-90(1996) 核级银 - 镉合金化学和光谱化学分析的标准测试方法
- ASTM C760-90 核级银铟镉合金的化学和光谱化学分析的标准试验方法
- ASTM C760-1990(2002) 核纯级银铟镉合金的化学及光谱化学分析方法
- ASTM C760-1990(2015) 核纯级银-铟-镉合金的化学及光谱化学分析的标准试验方法
- ASTM C760-1990(1996) 核纯级银铟镉合金的化学及光谱化学分析方法
- ASTM C760-1990(2007) 核纯级银铟镉合金的化学及光谱化学分析方法
工业和信息化部，关于光谱银的标准
- YS/T 445.10-2019 银精矿化学分析方法 第10部分：锑含量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法和火焰原子吸收光谱法
- YS/T 445.11-2019 银精矿化学分析方法 第11部分：铋含量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法、火焰原子吸收光谱法和Na2EDTA滴定法
- YS/T 1340-2019 铅及铅合金化学分析方法 锡、锑、砷、铋、铜、镉、钙、银含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
- YS/T 445.13-2019 银精矿化学分析方法 第13部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法
- YS/T 445.3-2019 银精矿化学分析方法 第3部分：砷含量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法和溴酸钾滴定法
- QB/T 1134-2017 首饰 银覆盖层厚度的测定 光谱法
安徽省市场监督管理局，关于光谱银的标准
- DB34/T 2981-2017 铅及铅合金 锡、锑、砷、铋、铜、镉、钙、 银含量的测定 波长色散 X 射线荧光光谱法
安徽省质量技术监督局，关于光谱银的标准
- DB34/T 2270-2014 铜阳极泥 铜、金、银、硒、铋、铅含量测定 波长色散 X射线荧光光谱法
行业标准-有色金属，关于光谱银的标准
- YS/T 990.8-2014 冰铜化学分析方法 第8部分:砷量的测定 氢化物发生—原子荧光光谱法、二乙基二代氨基甲酸银分光光度法和溴酸钾滴定法
- YS/T 229.1-2013 高纯铅化学分析方法 第1部分:银、铜、铋、铝、镍、锡、镁和铁量的测定 化学光谱法
- YS/T 34.2-1992 高纯砷化学分析方法.化学光谱法测定钴、锌、银、铜、钙、铝、镍、铬、铅、镁、铁量
- YS/T 36.3-1992 高纯锡化学分析方法.化学光谱法测定钴、铝、锌、银、铜、铟、钙、铋、镍、金、镁、铅、铁量
- YS/T 35.2-1992 高纯锑化学分析方法.化学光谱法测定锌、银、铜、镉、镍、铅、镁、金、铁和锰量
欧洲标准化委员会，关于光谱银的标准
- EN 15915-2010 铜及铜合金.银含量的测定.火焰原子光谱吸收法(FAAS)
行业标准-轻工，关于光谱银的标准
- QB/T 1135-2006 首饰 金 银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
国家军用标准-国防科工委，关于光谱银的标准
- GJB 5404.17-2005 高温合金痕量元素分析方法.第17部分:空心阴极光谱法测定.砷、银、锡、锑、碲、砣、铅和铋含量(常规法)
，关于光谱银的标准
- CSN 42 0600 Cast.5-1975 高纯度的锑．化学分析和光谱分析方法．光谱法测定银；铋；铜；铁；镍；铅和锡
行业标准-商品检验，关于光谱银的标准
- SN/T 4365-2015 铜精矿中铜、铅、铬、砷、银、锑、铋、镍、铁、铝元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
行业标准-电子，关于光谱银的标准
- SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法
