检验 体系

本专题涉及检验 体系的标准有87条。

国际标准分类中,检验 体系涉及到运输、造船和海上构筑物综合、质量、犯罪行为防范、食品试验和分析的一般方法、防护设备、电子元器件组件、电气工程综合、电子元器件综合、无损检测、摄影技术、集成电路、微电子学、电工器件、半导体分立器件、机床装置、齿轮及齿轮传动、长度和角度测量。

在中国标准分类中,检验 体系涉及到船舶维护与修理综合、标准化、质量管理、犯罪鉴定技术、食品卫生、旋转电机综合、基础标准与通用方法、感光材料、电子元件综合、金属无损检验方法、膜集成电路、混合集成电路、半导体集成电路、标准化、质量管理、继电器、斩波器、半导体分立器件综合、齿轮与齿轮传动、基础标准与通用方法。


国家质检总局,关于检验 体系的标准

行业标准-公共安全标准,关于检验 体系的标准

国家质量监督检验检疫总局,关于检验 体系的标准

,关于检验 体系的标准

行业标准-商品检验,关于检验 体系的标准

  • SN/T 2447.1-2010 进出口机电产品检验专业通用要求.第1部分:标准体系

英国标准学会,关于检验 体系的标准

  • BS EN 61193-2-2007 质量评估体系.第2部分:电子元件和包装件的检验用抽样策略的选择和使用
  • BS EN 100012-1996 电子元器件的质量评估协调体系.基础规范.X射线检验电子元件
  • BS QC 760001-1994 电子元器件质量评定协调体系.膜集成电路和混合集成电路.总规范.内部视力检验要求
  • BS QC 790101-1992 电子元器件质量评估协调体系.半导体器件.集成电路.不包括混合电路的半导体集成电路分规范.不包括混合电路的半导体集成电路分规范.不包括混合电路的半导体集成电路的内目测检验
  • BS EN 117000-1992 电子元器件的质量保证协调体系.总规范.经质量保证的半导体继电器.一般数据和检验方法
  • BS CECC 00013-1985 电子元器件质量评定协调体系.基本规范:半导体小片的扫描电子显微镜检验
  • BS CECC 90000 Addendum No. 1-1983 电子元器件用质量评估协调体系.一般规范:单块集成电路.内部目测检验
  • BS E9007-1975 电子元器件质量评定协调体系规范.基本规范.按属性检验的取样计划及程序

行业标准-交通,关于检验 体系的标准

日本工业标准调查会,关于检验 体系的标准

  • JIS K7627-1997 无损检验.工业用射线摄影胶片.工业辐射摄影术用胶片体系的分类

法国标准化协会,关于检验 体系的标准

  • NF A09-217-1-1994 无损检验.工业用X射线照相胶片.第1部分:工业X射线照相用胶片体系的分类

德国标准化学会,关于检验 体系的标准

  • DIN 45941-11-1987 电子元件质量评定协调体系.分规范:混合集成电路和薄膜集成电路(性能检验)(CECC63200)
  • DIN 3970-1-1974 正齿轮检验用标准齿轮.第1部分:齿轮坯和啮合体系
  • DIN 7178-1 Bb.1-1973 锥形工件C=1:3至1:500及长度6至630mm的圆锥公差与配合体系.内外圆锥的检验方法

丹麦标准化协会,关于检验 体系的标准





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