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大功率晶体管测试仪
本专题涉及大功率晶体管测试仪的标准有116条。
国际标准分类中，大功率晶体管测试仪涉及到半导体分立器件、电学、磁学、电和磁的测量、电子元器件综合、电子设备用机械构件、光纤通信、电子管、光电子学、激光设备、电磁兼容性(EMC)、计量学和测量综合、光学和光学测量。
在中国标准分类中，大功率晶体管测试仪涉及到计量综合、半导体二极管、通用电子测量仪器设备及系统、半导体分立器件综合、基础标准与通用方法、电容器、电子测量与仪器综合、场效应器件、无线电计量、技术管理、、微波管、半导体发光器件、光通信设备。
国家计量检定规程，关于大功率晶体管测试仪的标准
- JJG(电子) 04012-1987 BJ3022（QJ30） 型低频大功率晶体管F<下标t>测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04015-1988 QZ3、QZ4型高频小功率晶体管NF测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04023-1989 BJ2970型大功率半导体三极管tf测试仪检定规程
- JJG(电子) 04011-1987 QG21-QG25型高频小功率晶体管F<下标t>测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04047-1995 QG-6、QG-16型高频小功率晶体管ft参数测试仪检定规程
- JJG(电子) 04002-1987 BJ3030型高频小功率晶体管 C<下标c> r<下标bb>乘积测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04045-1995 JS-7B型晶体管测试仪检定规程
- JJG(电子) 310004-2006 晶体管h<下标 EE>参数测试仪检定规程
- JJG 725-1991 晶体管直流和低频参数测试仪检定规程
- JJG(电子) 04026-1989 BJ2985型晶体三极管维持电压测试仪检定规程
- JJG(电子) 04049-1995 国洋双栅场效应晶体管CX测试仪检定规程
- JJG(电子) 04004-1987 BJ2911（HQ-1B） 型晶体管综合参数测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04007-1987 BJ2950A（JS-4A） 型晶体管工作电压测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04005-1987 JSS-4A型晶体管低频H参数测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04001-1987 JS-2C型晶体管反向截止电流测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04003-1987 BJ2952A（JS-3A） 型晶体管反向击穿电压测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04009-1987 BJ2983型晶体三极管正偏二次击穿测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04010-1987 BJ2961型晶体管集成电路动态参数测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04016-1988 BJ2984（QR-3）型晶体三极管瞬态热阻测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04046-1995 QC-13型场效应晶体管跨导参数测试仪检定规程
- JJG(电子) 04048-1995 QG-29型高频晶体管Gf（Kf）、F（Nf）、AGC测试仪检定规程
- JJG 516-1987 BJ2920(HQ2)型数字式晶体三极管综合(直流)参数测试仪检定规程
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于大功率晶体管测试仪的标准
- JEDEC JEP65-1967 功率晶体管最大等级认证的测试程序
- JEDEC EIA-306-1965 微弱信号HF、VHF及UHF晶体管功率增益的测量
- JEDEC JESD313B-1975 传导冷却功率晶体管热阻测量.EIA-313-B 前RS-313-B的修订本
- JEDEC EIA-306-1965(R1999) 晶体管功率增益高频（HF）,甚高频（VHF）与超高频（UHF）小干扰的测量
- JEDEC JESD24-7-1992 JESD24的补遗－整流二极管安全工作区域测试步骤以在功率晶体管逆向恢复期中测量dv/dt
法国标准化协会，关于大功率晶体管测试仪的标准
- NF C96-822:1981 半导体器件大功率晶闸管
- NF EN IEC 61954:2021 静态无功功率补偿器 (SVC) - 晶闸管阀的测试
- NF F62-011-1:1992 铁路机车车辆 晶体管镇流器 一般功能特性 一般和测试
- NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 光放大器 测试方法 第 1-1 部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法
- NF EN IEC 61290-1-1:2020 光放大器 测试方法 第1-1部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法
- NF EN 61290-1-2:2006 光放大器 测试方法 第1-2部分：功率和增益参数 电频谱分析仪方法
美国国防后勤局，关于大功率晶体管测试仪的标准
- DLA MIL-S-19500/13 B VALID NOTICE 3-2011 半导体器件，晶体管，PNP，锗，大功率 2N174A 型
- DLA MIL-S-19500/36 C VALID NOTICE 4-2011 半导体器件，晶体管，PNP，锗，大功率 2N297A 型
- DLA MIL-S-19500/58 D VALID NOTICE 4-2011 半导体器件，晶体管，PNP，锗，大功率 2N665 型
- DLA DSCC-DWG-99009 REV A-2004 大功率硅NPN晶体管半导电器件 2N5241型
- DLA MIL-PRF-19500/370 H-2013 半导体器件、晶体管、NPN、硅、大功率、2N3442 型、JAN、JANTX 和 JANTXV
- DLA MIL-PRF-19500/621 C-2008 半导体器件、晶体管、PNP、硅、大功率、2N7369 型、JAN、JANTX、JANTXV 和 JANS
- DLA MIL-PRF-19500/433 H VALID NOTICE 1-2011 半导体器件、晶体管、PNP、硅、大功率、2N4399 和 2N5745 型、JAN、JANTX、JANTXV 和 JANS
- DLA MIL-PRF-19500/624 C-2008 半导体器件，达林顿晶体管，NPN，硅，大功率，2N7370 型，JAN，JANTX，JANTXV 和 JANS
- DLA MIL-PRF-19500/371 G-2009 半导体器件、晶体管、NPN、硅、大功率、类型 2N3902、2N3902T1、2N3902T3、2N5157、2N5157T1 和 2N5157T3、JAN、JANTX 和 JANTXV
- DLA MIL-PRF-19500/371 H-2013 半导体器件、晶体管、NPN、硅、大功率、类型 2N3902、2N3902T1、2N3902T3、2N5157、2N5157T1 和 2N5157T3、JAN、JANTX 和 JANTXV
- DLA SMD-5962-90958 REV B-2003 硅单块 操作放大器,低功率高输出驱动器,结型场效应晶体管输入,直线式微型电路
国家质检总局，关于大功率晶体管测试仪的标准
- GB 12300-1990 功率晶体管安全工作区测试方法
国家军用标准-总装备部，关于大功率晶体管测试仪的标准
- GJB 9150-2017 微波功率晶体管微波参数测试方法
- GJB 33/002-1989 半导体分立器件 低频大功率晶体管空白详细规范
韩国科技标准局，关于大功率晶体管测试仪的标准
- KS C 5216-1981(2001) 保证可靠性低频功率晶体管（的 大电流）
- KS C 5216-1981 保证可靠性低频功率晶体管（的 大电流）
RU-GOST R，关于大功率晶体管测试仪的标准
- GOST 20398.14-1988 场效应晶体管.输出功率、功率放大系数和漏的有效系数的测量方法
- GOST 18604.24-1981 高频振荡双极型晶体管.输出功率测量方法及功率放大系数和集电极有效作用系数的测定
- GOST 18604.13-1977 超高频振荡双极型晶体管.输出功率的测量方法和功率放大系数及集电极有效利用系数的确定方法
- GOST 19438.14-1975 小功率电子管.在低频放大方式下试验灯管时，灯管产生的非线性畸变与输出功率的测量方法
- GOST 26169-1984 无线电电子设备的电磁兼容性.大功率高频线性双极型晶体三极管组合成份系数规范
- GOST 18604.27-1986 大功率高电压双极型的晶体管.在发射极（集电极）为零电流时的集电极－基极（发射极－基极）击穿电压的测量方法
- GOST R 8.842-2013 确保测量一致性的国家系统. 半导体发射二极管辐射功率测量仪器. 验证程序
- GOST R 8.843-2013 确保测量一致性的国家系统. 半导体发射二极管辐射功率测量仪器. 验证程序
- GOST R 8.689-2009 确保测量一致性的国家体系.电功率计量仪表的质量因素.试验方法
- GOST R 8.720-2010 国家测量一致性体系.光纤传输系统用光功率计,光辐射源,回波损耗仪,光测试仪.验证方法
行业标准-电子，关于大功率晶体管测试仪的标准
- SJ 50033/134-1997 半导体分立器件.3DD167型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/65-1995 半导体分立器件.3DD175型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/63-1995 半导体分立器件.3CD020型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/132-1997 半导体分立器件.3DD260型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/66-1995 半导体分立器件.3DD880型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/64-1995 半导体分立器件.3CD010型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/131-1997 半导体分立器件.3DD157型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/130-1997 半导体分立器件.3DD159型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/91-1995 半导体分立器件.3CD030型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/92-1995 半导体分立器件.3CD100型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/129-1997 半导体分立器件.3DD155型低频大功率晶体管详细规范
- SJ 50033/67-1995 半导体分立器件.3DD103型高压低频大功率晶体管详细规范
- SJ/T 11227-2000 电子元器件详细规范.3DA98型NPN硅高频大功率晶体管
- SJ/T 10439-1993 双极型晶体管直流参数测试仪.测试方法
- SJ 20230-1993 BJ2951A（JS—5A）型晶体三极管HFE测试仪检定规程
- SJ 20231-1993 国洋双栅场效应晶体管Yfs测试仪检定规程
- SJ/Z 9008.5-1987 微波电子管电性能的测试 第6部分：大功率速调管
- SJ/T 10438-1993 双极型晶体管直流参数测试仪.通用技术条件
- SJ 20232-1993 国洋双栅场效应晶体管GP参数测试仪检定规程
- SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法.输出光功率的测试方法
- SJ/T 11824-2022 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）等效电容和电压变化率测试方法
- SJ 2658.13-1986 半导体红外发光二极管测试方法.输出光功率温度系数的测试方法
CU-NC，关于大功率晶体管测试仪的标准
- NC 66-94-1987 电工和电工技术工业．低频率和大功率双极晶体管．质量规格
- NC 66-23-1984 电子线路．大功率和低频双极性晶体管2N 3055．质量规范
- NC 66-20-1984 电子线路．大功率和低频双极性晶体管BD 175；BD 176；BD 177和BD 178．质量规范
- NC 66-22-1984 电子线路．大功率和低频双极性晶体管BD 705； BD 707；BD 708；BD 709；y BD 710．质量规范
- NC 66-24-1984 电子线路．大功率和低频双极性晶体管BD 533；BD 534；BD 535；BD 536；BD 537；BD 538质量规范
- NC 66-21-1984 电子线路．大功率和低频双极性晶体管 BD 233； BD 234；BD 235；BD 236；BD 237 y BD 238．质量规范
美国电子元器件、组件及材料协会，关于大功率晶体管测试仪的标准
- ECA TEP105-12-1987 晶体管表面反射率测试方法
国际电工委员会，关于大功率晶体管测试仪的标准
- IEC 60747-8-2:1993 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第2节:外壳额定功率放大场效应晶体管空白详细规范
- IEC 61290-1-1:2020 光放大器 - 测试方法 - 第1-1部分:功率和增益参数 - 光谱分析仪方法
英国标准学会，关于大功率晶体管测试仪的标准
- BS EN IEC 61290-1-1:2020 光放大器 测试方法 功率和增益参数 光谱分析仪法
- BS IEC 60747-8:2001 分立半导体器件和集成电路.场效应晶体管.电源转换场效应晶体管测量方法中附加功率、特性和amds
- 19/30398879 DC BS EN 61290-1-1 光放大器 测试方法 第1-1部分 功率和增益参数 光谱分析仪法
美国材料与试验协会，关于大功率晶体管测试仪的标准
- ASTM F466-79(1992) 0.2 至 2.0 GHZ 频率范围内低功率晶体管的小信号散射参数的测试方法（1997 年撤回）
中国团体标准，关于大功率晶体管测试仪的标准
- T/CASAS 015-2022 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）功率循环试验方法
TH-TISI，关于大功率晶体管测试仪的标准
- TIS 2123-2002 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管.第2节:外壳限定的功率放大器用场效应晶体管的空白详细规范
IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components，关于大功率晶体管测试仪的标准
- QC 750106-1993 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管第二部分 外壳额定功率放大器应用场效应晶体管的空白详细规范（IEC 747-8-2 ED 1）
丹麦标准化协会，关于大功率晶体管测试仪的标准
- DS/EN 61290-1-1:2007 光放大器 测试方法 第 1-1 部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法
- DS/EN IEC 61290-1-1:2020 光放大器 测试方法'第1-1部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法
- DS/EN 61290-1-2:2006 光放大器 测试方法 第 1-2 部分：功率和增益参数 电频谱分析仪方法
欧洲电工标准化委员会，关于大功率晶体管测试仪的标准
- EN 61290-1-1:2015 光放大器 测试方法 第 1-1 部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法
- EN IEC 61290-1-1:2020 光放大器 测试方法 第 1-1 部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法
ES-UNE，关于大功率晶体管测试仪的标准
- UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 光放大器 测试方法 第1-1部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法
- UNE-EN 61290-1-1:2015 光放大器 测试方法 第1-1部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法
- UNE-EN 61290-1-2:2005 光放大器 测试方法 第1-2部分：功率和增益参数 电频谱分析仪方法
日本工业标准调查会，关于大功率晶体管测试仪的标准
- JIS C 6122-1-2:2011 光纤放大器.测试方法.第1-2部分:增益参数和功率.电频谱分析仪法
- JIS C 6122-1-1:2011 光纤放大器.测试方法.第1-1部分:增益参数和功率.光学频谱分析仪法
德国标准化学会，关于大功率晶体管测试仪的标准
- DIN EN 61290-1-2:2006-07 光放大器 测试方法 第1-2部分：功率和增益参数 电频谱分析仪方法
- DIN EN IEC 61290-1-1:2019 光放大器 测试方法 第 1-1 部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法（IEC 86C/1563/CD:2018）
- DIN EN IEC 61290-1-1:2022-07 光放大器 - 测试方法 - 第 1-1 部分：功率和增益参数 - 光谱分析仪方法 (IEC 61290-1-1:2020)
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，关于大功率晶体管测试仪的标准
- EN 61290-2-1:1998 光纤放大器 基本规范第 2-1 部分：光功率参数的测试方法 光谱分析仪
- EN 61290-2-2:1998 光纤放大器 基本规范第 2-2 部分：光功率参数电频谱分析仪的测试方法
立陶宛标准局，关于大功率晶体管测试仪的标准
- LST EN 61290-1-1-2007 光放大器 测试方法 第 1-1 部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法（IEC 61290-1-1:2006）
- LST EN 61290-1-2-2006 光放大器 测试方法 第 1-2 部分：功率和增益参数 电频谱分析仪法（IEC 61290-1-2:2005）
- LST EN IEC 61290-1-1:2020 光放大器 测试方法 第 1-1 部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法（IEC 61290-1-1:2020）
PL-PKN，关于大功率晶体管测试仪的标准
- PN-EN IEC 61290-1-1-2021-06 E 光放大器 测试方法 第 1-1 部分：功率和增益参数 光谱分析仪方法（IEC 61290-1-1:2020）
