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光谱测量厚度

本专题涉及光谱测量厚度的标准有8条。

国际标准分类中，光谱测量厚度涉及到长度和角度测量、金属材料试验、分析化学、艺术和手工艺品。

在中国标准分类中，光谱测量厚度涉及到金属物理性能试验方法、基础标准与通用方法、工艺美术品。

美国材料与试验协会，关于光谱测量厚度的标准

• ASTM B568-98(2021) 通过X射线光谱法测量涂层厚度的标准测试方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于光谱测量厚度的标准

• GB/T 34190-2017 电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法

国际标准化组织，关于光谱测量厚度的标准

• ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
• ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量

英国标准学会，关于光谱测量厚度的标准

• BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
• BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量

行业标准-轻工，关于光谱测量厚度的标准

• QB/T 2631.1-2004 金饰工艺画.金层含金量与厚度测定.ICP光谱法.第1部分:金膜画
• QB/T 2631.2-2004 金饰工艺画.金层含金量与厚度测定.ICP光谱法.第2部分:金箔画

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