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晶须 试验
本专题涉及晶须 试验的标准有19条。
国际标准分类中，晶须 试验涉及到环境试验、电子元器件组件、电子电信设备用机电元件。
在中国标准分类中，晶须 试验涉及到基础标准与通用方法、环境条件与通用试验方法、基础标准和通用方法、连接器。
英国标准学会，关于晶须 试验的标准
- BS EN 60068-2-82:2007 环境测试.试验.试验Tx:电子和电气元件用晶须试验方法
- BS EN 60512-16-21:2012 电子设备连接器. 试验和测量. 接触和终端的机械试验. 试验16u. 通过应用外部机械应力的晶须试验
韩国科技标准局，关于晶须 试验的标准
- KS C IEC 60068-2-82-2012(2017) 环境试验第2-82部分:试验Tx:电子和电气元件晶须试验方法
- KS C IEC 60068-2-82:2021 环境试验.第2-82部分:试验.试验Xw1:电子组件用元件和零件的晶须试验方法
SCC，关于晶须 试验的标准
- DANSK DS/EN 60068-2-82:2007 环境试验 第2-82部分：试验 试验 Tx：电子电气元件的晶须试验方法
法国标准化协会，关于晶须 试验的标准
- NF C20-700-2-82*NF EN 60068-2-82:2013 环境试验 - 第2-82部分: 试验 - 试验XWI: 电子和电气元件用晶须试验方法
- NF C93-400-16-21*NF EN 60512-16-21:2012 电子设备连接器 - 试验和测量 - 第16-21部分: 接触件及引出端的机械试验 - 试验16u: 凭借外部机械应力应用的晶须试验
RU-GOST R，关于晶须 试验的标准
- GOST R IEC 60068-2-82-2017 环境试验. 第2-82部分. 试验. 试验XW1: 电子和电气元件的晶须试验方法
日本工业标准调查会，关于晶须 试验的标准
- JIS C 60068-2-82:2009 环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子和电气元件用晶须试验方法
- JIS C 60068-2-82:2021 环境试验. 第2-82部分: 试验. Xw1试验: 电子装配使用的零部件的晶须试验方法
德国标准化学会，关于晶须 试验的标准
- DIN EN 60068-2-82:2007 环境测试.第2-82部分:试验.试验Tx:电子和电气元件用晶须试验方法
- DIN EN IEC 60068-2-82:2020 环境试验. 第2-82部分: 试验. 试验Xw1: 电子组件中使用的组件和部件的晶须试验方法(IEC 60068-2-82-2019); 德文版 EN IEC 60068-2-82-2019
- DIN EN 60512-16-21:2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-21部分:触点和终端的机械试验.试验16u:通过应用外部机械应力的晶须试验(IEC 60512-16-21-2012).德文版本EN 60512-16-21-2012
欧洲电工标准化委员会，关于晶须 试验的标准
- EN 60068-2-82:2007 环境试验.第2-82部分:试验.试验Tx:电子和电气元器件的晶须试验方法
国际电工委员会，关于晶须 试验的标准
- IEC 60068-2-82:2019 环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子组件用元器件的晶须试验方法
- IEC 60068-2-82:2007 环境试验.第2-82部分:试验.试验XW<(指数)1>:电子和电气元件用晶须试验方法
- IEC 60068-2-82:2007/COR1:2009 环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子和电气组件用晶须试验方法.勘误表1
- IEC 60512-16-21:2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-21部分:触点和终端的机械试验.试验16u:外部机械应力应用的晶须试验
KR-KS，关于晶须 试验的标准
- KS C IEC 60068-2-82-2021 环境试验.第2-82部分:试验.试验Xw1:电子组件用元件和零件的晶须试验方法
