IEC 60068-2-82:2007
环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子和电气元件用晶须试验方法
Environmental testing - Part 2-82: Tests - Test XW1: Whisker test methods for electronic and electric components
- 标准号
- IEC 60068-2-82:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 60068-2-82:2007/COR1:2009
- 当前最新
- IEC 60068-2-82:2019
- 被代替标准
- IEC 91/651/FDIS:2007
- 适用范围
- IEC 60068 的这一部分规定了代表成品阶段（锡或锡合金表面处理）的电气或电子元件的晶须测试。然而，该标准没有指定对可能因外部机械应力而生长的晶须进行测试。该测试方法由相关规范（国际组件或应用规范）采用，并转移要应用的测试严重性和定义的验收标准。如果本标准中描述的测试考虑用于其他部件，例如电气或电子设备中使用的机械部件，则应确保材料系统和晶须生长机制具有可比性。
IEC 60068-2-82:2007相似标准
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