本专题涉及晶粒尺寸和半峰宽的标准有1条。
国际标准分类中,晶粒尺寸和半峰宽涉及到无损检测。
在中国标准分类中,晶粒尺寸和半峰宽涉及到X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器。
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